ZEISS EVO系列操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡平臺
適用于日常檢測與研究應用
作為高性能的掃描電子顯微鏡，EVO 系列可為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗。憑借豐富的選件、EVO 可根據(jù)您的需求量身定制，無論是在生命科學、材料科學，或是在日常的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領域。
產(chǎn)品詳情
當您配置多功能解決方案用于顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室時，不同規(guī)格的樣品室和樣品臺選件可滿足您的各類應用需求。即使是面對具有挑戰(zhàn)的大型工業(yè)部件和樣品，掃描電子顯微鏡也同樣能夠勝任。選用可提供更高電子束亮度以增強圖像分辨率和降低噪點的成熟技術六硼化鑭（LaB6）電子槍，讓掃描電子顯微鏡在最大圖像質(zhì)量下發(fā)揮出色的檢測性能。借助可變壓力操作模式，體驗非導電樣品的卓越成像和分析。安裝多種分析探測器的設計，可協(xié)助您完成要求嚴苛的顯微分析應用。
卓越的可用性
EVO 配置的兩種用戶界面 SmartSEM Touch 和 SmartSEM 可以滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch 采用觸摸屏操作，只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手，大大減少了培訓所產(chǎn)生的工作量及成本。即便是新手用戶，也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。此外，該用戶界面也能為工業(yè)操作員提供幫助，他們需要自動化工作流程來完成可重復的檢測任務。EVO 專業(yè)用戶則可通過使用顯微鏡計算機上安裝的 SmartSEM 用戶界面，找到高級成像所需的全部功能。
出色的圖像質(zhì)量
圖像質(zhì)量會因掃描電子顯微鏡下的待測樣品不同而有所差異。將可變壓力（VP）模式和我們獨有的可變壓力與電流串聯(lián)二次電子（SE）探測器組合應用，可為所有非導電樣品提供最優(yōu)圖像質(zhì)量。擴展壓力模式與水蒸氣和 C2DX 探測器相結合， 使含水與重度污染的樣品保留其原始狀態(tài)，從而保護數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外，選用 LaB6 電子槍還能增強分辨率、對比度和信噪比，這在面對具有挑戰(zhàn)的成像與顯微分析時尤為重要。
工作流程自動化和數(shù)據(jù)完整性
EVO 與其他顯微儀器良好互聯(lián)。它可作為半自動化和多模式工作流程中的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并在多種模式下收集數(shù)據(jù)，從而使信息完整。EVO 可與蔡司數(shù)碼光學顯微鏡 Smartzoom 5 或任一其他復合光學顯微鏡組合使用。將光學與電子顯微鏡數(shù)據(jù)相結合，進行材料表征或部件檢驗。或?qū)?EVO 與蔡司光學顯微鏡組合，進行關聯(lián)顆粒度分析。
在高真空下使用雙放大倍率采集到的鈰鐵顆粒二次電子圖像。
SmartSEM Touch讓新用戶也能夠以最直觀的方式操作成像功能和預定工作流程。
蔡司EVO與數(shù)碼光學顯微鏡Smartzoom 5組合使用，完成相關聯(lián)的工作流程。